日本UNION高倍率工業(yè)顯微鏡

日本union高倍率工業(yè)顯微鏡，在非接觸光學(xué)方法下檢測(cè)焦點(diǎn)時(shí)，可在不受試樣物理?yè)p傷影響的情況下進(jìn)行測(cè)量，如變形、沖擊或刻痕等。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的焊縫精密測(cè)量！

高倍率工業(yè)顯微鏡應(yīng)用場(chǎng)景

（1）引線(xiàn)框架高度

（2）IC探頭高度、探頭尖端磨損程度

（3）焊線(xiàn)和焊球的高度

（4）多層PC板上的終端臺(tái)階

（5）硅片和砷化鎵上的步驟

（6）石英晶體上的臺(tái)階

（7）罐上的凹槽

（8）墊片厚度

總的來(lái)說(shuō)，是焊接后焊縫高精密測(cè)量?jī)x器。

高倍率工業(yè)顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)

高倍率工業(yè)顯微鏡測(cè)量原理

 該顯微鏡系統(tǒng)提供了一個(gè)精確的聚焦指示器，該指示器由折射率分劃（目標(biāo)標(biāo)記）和內(nèi)置在顯微鏡反射照明光學(xué)系統(tǒng)中的分束棱鏡組成。它是根據(jù)光學(xué)原理設(shè)計(jì)的，在對(duì)焦?fàn)顟B(tài)下，上下兩半重合，可以在試樣的對(duì)焦圖像上方觀(guān)察到，即使稍微散焦，也可以在分劃的上下兩半將折射率線(xiàn)分成兩條線(xiàn)。

高倍率工業(yè)顯微鏡的測(cè)量方法

    通過(guò)確認(rèn)分劃上半部分和下半部分中的垂直索引線(xiàn)與兩條直線(xiàn)完全重合，確保精確的焦點(diǎn)，而不是判斷樣本表面的圖像是否模糊。因?yàn)檫@是一個(gè)獨(dú)特的系統(tǒng)，既不受物鏡焦距的影響，也不依賴(lài)人眼辨別兩點(diǎn)的能力，與其他聚焦系統(tǒng)相比，焦點(diǎn)可以非常精確地確定。該聚焦系統(tǒng)和數(shù)字儀表允許非接觸、高精度測(cè)量表面之間的臺(tái)階高度。

高倍率工業(yè)顯微鏡的優(yōu)勢(shì)

    在非接觸光學(xué)方法下檢測(cè)焦點(diǎn)時(shí)，可在不受試樣物理?yè)p傷影響的情況下進(jìn)行測(cè)量，如變形、沖擊或刻痕等。

    參考圖-①由于采用了基于“分割目標(biāo)”方法的精確聚焦指示器，只需將分劃的兩半重合即可進(jìn)行高度精確的深度測(cè)量。由于操作簡(jiǎn)單，這是最適合各種應(yīng)用的測(cè)量顯微鏡系統(tǒng)。在觀(guān)察測(cè)量點(diǎn)的微小表面狀況時(shí)，可以確定測(cè)量參考點(diǎn)和測(cè)量點(diǎn)之間的位置關(guān)系，也可以在同一視野內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。

    參考圖-②可通過(guò)使用高倍率物鏡提高測(cè)量精度。

    參考圖-③可根據(jù)試樣表面條件選擇黑色條紋或白色條紋目標(biāo)標(biāo)記。由于杠桿可選擇三種目標(biāo)標(biāo)記狀態(tài)（黑色條紋、白色條紋和無(wú)），因此必要時(shí)可在無(wú)目標(biāo)標(biāo)記的情況下拍攝照片。

    各種型號(hào)可通過(guò)觀(guān)察頭、測(cè)量臺(tái)等不同設(shè)備組合配置，取決于各自用戶(hù)的應(yīng)用程序(參考系統(tǒng)圖）如果使用激光系統(tǒng)觀(guān)察透明、鏡面或梨皮表面，由于漫反射，容易出現(xiàn)聚焦誤差。在我們的光學(xué)系統(tǒng)中，目標(biāo)標(biāo)記可以投射到這些表面上，可以測(cè)量這些樣品表面的臺(tái)階高度。

高倍率工業(yè)顯微鏡產(chǎn)品尺寸